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- 試料評価 -

粉末X線回折装置 (リガク UltimaW 高速検出器付)

試料にX線を照射しその回折現象を観測します。回折パターンを解析することにより、結晶構造や格子定数といった 物性の起源を理解する上で大変重要な情報を得ることができます。

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ラウエ測定装置

単結晶試料に連続X線を照射し、その回折現象を観測します。観測される回折像をラウエ斑点といい、 これをシミューレーションの結果と比較することで、単結晶の軸を決定します。 これは2007年に導入されたイメージングプレートによって斑点を読み取る装置です。

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実際に撮影された結果とシミュレーション(LauePtから)の比較です。

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DTA

試料に熱を与え、それに対する反応を観測することによって物質の相転移温度(融点など)を決定することができます。 測定温度領域は室温から1500℃までです。試料を育成する際にこの温度は重要な役割を果たします。

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