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更新日：2012.04.24
| 低温実験部 | |||||
|---|---|---|---|---|---|
 利用申請書(H24版) |
低温実験部を利用する年度毎に提出 |
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| 物質科学機器分析部 | |||||
| 利用申請書(H24版) |
物質科学機器分析部を利用する年度毎に提出 |
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| 講習・見学申込書 |
装置の講習や施設見学希望時に提出 |
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| 時間外使用届 |
17時以降の利用時に、使用申込書とともに提出 |
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| 使用申込書 |
機器使用時または測定依頼時に毎回提出 | 外部資金 | 直接測定用 | 依頼測定用 | |
| NMR | 超高分解能核磁気共鳴装置 | Lambda500 | 利用可 |
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(適用なし) |
| ECA600 | 利用可 |
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| ECA500 | 利用可 |
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| ESR | 電子スピン共鳴装置 | 利用可 |
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(適用なし) | |
| MS | 高性能ハイブリッド型質量分析システム | 利用可 |
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| レーザーイオン化飛行時間型質量分析装置
(MALDI-TOFMS) |
利用可 |
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| 分析分取用LC/MSシステム |
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(適用なし) | |||
| 有機元素分析 | CHNS分析装置(直接測定用) | 利用可 |
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(適用なし) | |
| CHNS分析装置(依頼測定用) | 利用可 | (適用なし) |
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| ハロゲン分析装置 | |||||
| EPMA | 電子プローブマイクロアナライザー | 利用可 |
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| TEM | 超高分解能透過型電子顕微鏡 (TEM-EDX を含む) | 利用可 |
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| 精密イオンポリッシング装置 | 利用可 |
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| SEM | 超高分解能電界放出型走査電子顕微鏡装置 | 利用可 |
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| エネルギー分散型X線分析装置(SEM-EDX) | 利用可 |
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| 蒸着用イオンスパッタ装置 |
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| カーボンコーター |
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| オスミウムコーター |
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| 顕微 | デジタルマイクロスコープ |
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(適用なし) | ||
| XRD | X線結晶構造解析装置 (104室) |
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(適用なし) | ||
| 極微小結晶用単結晶構造解析システム (107室)(理・A416室) | 利用可 |
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(適用なし) | ||
| PL/Raman | フォトルミネッセンス/ラマン分光装置 (103室) | 利用可 |
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(適用なし) | |
| ラマン分光光度計 (304室) |
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(適用なし) | CD | 極低温磁気円二色性装置 |
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(適用なし) | 円二色性・ストップトフロー測定装置 |
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| その他 分光 |
旋光計 |
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| 可視紫外分光光度計 |
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| フーリエ変換赤外分光光度計 |
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| 分光蛍光光度計 |
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(適用なし) | |||
| 生物培養 システム |
グロースキャビネット |
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(適用なし) | ||
| ホモジナイザー | |||||
| クリーンベンチ | |||||
| オートクレーブ | |||||
| ヒーター式インキュベータ | |||||
| 振盪培養機 | |||||