1. S.Amakawa, H.Fukui, M.Fujishima, and K.Hoh Estimation of Cotunneling in Sigle-Electron Logic and Its Suppression Japanese Journal of Applied Physics, Vol.35, No.2B, pp.1146-1150, February, 1996


  1. M.Fujishima, K.Hoh, et al Simultaneous Determination of Threshold Voltage, Mobility, and Parasitic Resistance for Short-Channel MOSFET 1996 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS 1996), pp.131-134, March, 1996
  2. H.Fukui, M.Fujishima, and K.Hoh Single-Electron Transistor in SOI Structure with Schottky Contact Tunnel Barriers Meet.Abstr., Electrochemical Society, p578 (190th Society Meet.,1996. 10)
  3. H.Fukui, M.Fujishima, and K.Hoh Single-Electron Transistor with Schottky-Barrier Source/Drain Int. Symp. On Formation, Physics and Device Application of Quantum Dot Structures, p.146, 1996. 11
  4. S.Amakawa, M.Fujishima, and K.Hoh Characterization of Capacitively-Coupled Dual Tunnel Junction Array Int. Symp. on Formation, Physics and Device Application of Quantum Dot Structures, p.?154, 1996. 1

Domestic Workshops

  1. 福井、藤島、鳳 ショットキー障壁を用いた単一電子トランジスタ 平成8年春季第43回応用物理学会学術講演会、第1分冊、26a-ZA-8、p.59、平成8年3月
  2. 福井、藤島、鳳 ショットキー障壁を用いた単一電子トランジスタ(2) 平成8年秋季第57回応用物理学会学術講演会、9a-B-4、p.61、1996. 9、福岡
  3. 天川、福井、藤島、鳳 単電子回路における高次トンネリングの影響の評価 平成8年春季第43回応用物理学会学術講演会、第1分冊、27a-ZA-4、p.71、平成8年3月
  4. 天川、藤島、鳳 容量結合された2つの微小トンネル接合列の量子カレントミラーへの応用 平成8年秋季第57回応用物理学会学術講演会、9p-B-12、p.67、1996. 9、福岡
  5. 入田、藤島、鳳 非線形遷移現象を利用した集積知能システムの研究 科研費重点領域研究「極限集積化シリコン知能エレクトロニクス」シンポジウム、pp.291-297、平成8年3月
  6. 辻田、藤島、鳳 真空中酸素ジェットによるSiの熱酸化 平成8年春季第43回応用物理学会学術講演会、第2分冊、26pN-1、pp.814、平成8年3月
  7. 杜、藤島、鳳 Al-Si(1%)/Si コンタクト部の通電時における抵抗変化 平成8年秋季第57回応用物理学会学術講演会、9aN-8、p.71、1996. 9、福岡
  8. 入田、帆足、藤島、鳳 ビットレベルパイプライン手法を用いたディジタルニューロチップの最小化 電子情報通信学会秋季大会、p.C501、1996. 9
  9. 荒木、西村、藤島、鳳 単一ドープSOIFET(2) 平成8年春季第43回応用物理学会学術講演会、第2分冊、26pN-1、pp.814、平成8年3月