JEM-2010について
JEM-2010の特徴
当センター所有のTEMは日本電子製JEM-2010(CCD＆EDS付属)です。ナノスケールでの組織観察や局所領域の化学組成分析を行えます。
当センターのTEMには2台のCCDカメラと有効検出面積50 mm2を誇る半導体検出器を備えたEDXが装備されています。
CCDについて
サイドマウントとボトムマウントの2台のCCDカメラがあります。サイドマウントカメラは比較的低倍率で広い視野を観察する時、電子線回折像を取得する時に利用します。ボトムマウ ントカメラは格子像などの高分解能像を取得する際に利用します。
CCDの導入により現像の手間がなくなり、フィルム代もかからなくなりました。ピンボケや非点の有無をその場で確認できるため、扱いに慣れる時間が大幅に短縮されます。
EDSについて
EDSは日本電子製のJED-2300Tです。測定可能元素はBからUまでです。エネルギー分解能は137 eVです(実測値)。
TEM-EDSの強みは、最小で直径10 nm程度の極微小部分の化学組成をピンポイントで測定できることです。また、標準試料を作製することで定量分析を行うことが可能です。TEM-EDSの定量分析は容易ではありませんがご要望があれば出来る限りの対応はさせて頂きます。まずは一度ご相談ください。