- 詳細はこちら（取扱説明書）をご覧下さい
- 出力
- 40 kV×30mA
- X線源
- 回転対陰極（ローター）
- 波長 （モノクロメーター）
- λ = 1.5418 Å （CuKα1）
- 集光
- 点収束型のＸ線集光ミラーを用いて集光（ピンホールスリット 利用)
- 検出器
- ＊PILATUS 100k （高速2次元X線検出器）：検出面積 33.5mm×83.8 mm
（測定制御ソフトと組み合わせて、その場で散乱像の確認、時分割測定などが可能です）＊Imaging Plate（1pixel = 100μm ）
・主としてWAXSに利用
・測定後、読み取り装置（R-AXIS）によって散乱像を読み出します。
- カメラ長
- 真空パス（150mm、290mm、590mm）の組み合わせで可変
- 小角カメラ長範囲 150mm (2θ＝0.3°- 15°）～ 1320mm （2θ＝0.05°- 1.7°）
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- 広角撮影範囲：
IP利用時 2θ≦ 60°（q=40nm^-1）； PILATUS 利用時 2θ≦ 30°（q=21 nm^-1
- 試料ステージ
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- 通常ステージ
- 室温での固体・粉末試料などの透過撮影
（ゴニオヘッドを用いて角度調整も可能）
- 温調ステージ（ペルチェ）
- ガラスキャピラリーに入れた溶液試料など
温度範囲（０℃～１００℃） （乾燥窒素を用いれば-２０℃まで可能）
- ＧＩステージ（微小角入射測定ステージ）
- 薄膜試料などのGISAXS、GIWAXS測定
膜面・基板にほぼ平行にX線を入射させて測定
担当教員
- 田口 健 先進理工系科学研究科（総合科学部）・准教授 （内線：６５３８）
- 戸田昭彦 先進理工系科学研究科（総合科学部）・教授
- 田中晋平 先進理工系科学研究科（総合科学部）・准教授
沿革
- 2013年5月31日
- NanoViewer 講習会開催 （リガク・X線解析事業部・伊藤さん）
- 2012年12月
- Nano Viewer 設置
- 2015年2月
- フィラメント交換
- 2015年４月
- ターボ分子ポンプ（TMP4）故障により、交換検出器（PILATUS）故障により修理
